MITTWOCH 22. Oktober 2014

AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis

22. Oktober 2014

9:30 – 10:30

10:30 – 11:00

Begrüßung: Keynote:

Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments Owen Golden, Vice President Global Energy Segment, National Instruments Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management Solutions, Siemens AG, Sektor Energy

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Power Programming

Test & Measurement

Verification & Validation

Einführung in LabVIEW OOP l Stefan Kissel, National Instruments Germany GmbH

Are Modular Instruments Right for Me? Bill Driver, National Instruments Corp. Messung des Bremsver­ haltens eines 2 km langen Güterzuges im stationären Prüfstand Laurent Chatard, Konrad GmbH, Jörg Koch, Knorr Bremse AG

Wo sind die Requirements hin? Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH Validation & Verification von A bis Z Andreas Stark, National Instruments Germany GmbH

12:00 – 12:30

Actor Framework – Explained Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH

Processor-in-the-Loop (PIL) für leistungselektronische Systeme Jens Bielefeldt, KOSTAL Industrie Elektrik GmbH

12:30 – 13:00

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Kraft, Druck und Beschleu­ nigung messen mit piezo­ elektrischen Sensoren und LabVIEW Martin Stierli, Kistler Instrumente AG Datenerfassungssystem des Vierquadranten-Stromrichters für die Plasma-Lageregelung von ASDEX Upgrade Alexander Sigalov, Claus-Peter Käsemann, Horst Eixenberger, Max-Planck-Institut für Plasmaphysik Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

11:00 – 11:30

11:30 – 12:00

13:00 – 14:00 14:00 – 14:30

14:30 – 15:00

Actor Framework – in Action Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH

UI Design – Ideen, Konzepte, Anregungen Wolfgang Zwick, National Instruments Germany GmbH

Fast and High-Quality Validation of Microcontrollers with NI PXI Dr. Hans-Georg Häck, Texas Instruments Deutschland GmbH

15:00 – 15:30

15:30 – 16:00 16:00 – 16:30

16:30 – 17:00

ab 17:00

Einführung in NI VirtualBench Stefan Albert, National Instruments Germany GmbH

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Web Services – Technologie und Anwendung l Simon Hogg, National Instruments Corp. Gestaltung von Benutzer­ oberflächen in LabVIEW am Beispiel von Forschungs­ anlagen der chemischen Verfahrenstechnik Dominic Zuleger, Christian Moritz, Zumolab Get-together mit anschließender Party

NI-VST-basierter UTP 9010 RF-Funktionstester für Netzwerknoten und Module bei der Qundis GmbH Manuel Bogedain, Noffz ComputerTechnik GmbH Test nonstop – Entwicklung und Test parallel von Tag 1 an Michael Riemer, imbus AG

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Automatisierung von Hardware Design Verification and Validation Tests l Axel Rau, Continental Automotive GmbH Record und Playback von Inertialsignalen mittels integrierter NI-basierter Inthe-Loop-Testlaborumgebung für Location-Based Services Ina Partzsch, FraunhoferInstitut für Verkehrs- und Infrastruktursysteme IVI Teststrategien für elektrische Tests nach LV 124 – Vor­ stellung einer Lösung zur Qualifikation von Steuer­ geräten nach LV 124 Norm l Ronald Kaempf, Ralf Zimmermann, WKS Informatik GmbH Integrationstests für Schienenfahrzeuge auf Basis von LabVIEW Rainer Arnold, Andreas Rzezacz, VOITH Engineering Services GmbH Road & Rail Improving Embedded Software Quality by Testing Early and Often Nicholas Keel, National Instruments Corp.

Embedded Control & Monitoring

Data Management

Meet the Experts

A Better Approach to Embedded Systems Design Nicholas Butler, National Instruments Corp. Aktives Energiemanagement eines Holzwerkes mithilfe von LabVIEW und NI SingleBoard RIOs als Cyber-Physical Systems Peter Adelhardt, DATA AHEAD GmbH, Arthur Naumann, Holzwerke Bullinger GmbH & Co.KG HMI Solutions for Embedded Systems Melanie Eisfeld, National Instruments Germany GmbH

Rettet die Datensilos! Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG Big Analog Data™ Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

Model-Based Engineering for RF Applications with the NI Platform Benjamin Michel, Thomas Frank, National Instruments Germany GmbH, Olivier Pelhatre, AWR Germany

ISAAK-X Unternehmens­ weite Datenhaltung und Prüfstandsauswertung Martin Winkler, measX GmbH & Co. KG

Meet the LabVIEW Experts National Instruments and Friends

Modular Software and Hardware Design for Systems Microscopy Dr. Lars Hufnagel, EMBL

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Highlights in DIAdem 2014 Walter Rick, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

Intelligente eingebettete MehrkomponentenKraftmessplatte für hoch­ dynamische Überwachungsund Regelungsapplikationen Oliver Adams, Sascha Kamps, RWTH Aachen

Power Electronics Testing Round Table Controversy – (Poetry)-Slam Offene Diskussion Andreas Stark, National Instruments Germany GmbH

Smaller Size, Increased Flexibility: Introducing NI‘s Newest Board-Level Embedded Target Eric Myers, National Instruments Corp.

Echtzeit unter Windows mit DIAdem DAC und EtherCAT Holger Müller, a-solution GmbH

Auf NI Single-Board RIO basierendes modulares Sensor-Aktor-Testsystem Herbert Pichlik, SYSTEC GmbH, Bert Walch, Robert Bosch GmbH

ASAM ODS: Experten­systeme für jedermann mit DIAdem und DataFinder l Stefan Romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG DIAdem 64 bit – Sneak Preview l Andrea Perin, National Instruments Germany GmbH

LabVIEW auf eigener, vernetzter Embedded-Hardware Marco Schmid, Schmid Elektronik AG

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Workshops

Seminare

Industrielle Bild­verarbeitung mit dem Vision Builder for Automated Inspection (VBAI) Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH

Triggern, Takten und Synchronisieren mit NI LabVIEW Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Einführung in die objektorientierte Programmierung mit LabVIEW l Dr. Holger Brand, Brand New Technologies

Erste Schritte mit NI RIO – FPGA- und Echtzeitprogrammierung l Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH

Interaktives Daten­ management und Berichterstellung mit NI DIAdem l Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

Einführung in NI Motion l Melanie Eisfeld, National Instruments Germany GmbH

l Für Fortgeschrittene l Automotive-Bezug

MITTWOCH

AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis

9:30 – 10:30 10:30 – 11:00

23. Oktober 2014 Keynote:

Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments Daniel Riedelbauch, Marketing Manager Central Europe, National Instruments

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Power Programming

11:00 – 11:30

Strukturierte Software­ entwicklung mithilfe des SCRUM-Modells l Julien de Freitas, National Instruments Switzerland GmbH

11:30 – 12:00

Refactoring von großen Projekten Martin Weiss, Carl Zeiss Jena GmbH

12:00 – 12:30

Bug und Feature Tracking in LabVIEW durch die Anbindung von Redmine Oliver Frank, Jürgen Buhrz, Helmholtz-Zentrum Geesthacht, Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH Qualitätssicherung durch Code Review Norbert Brand, National Instruments Germany GmbH

12:30 – 13:00

13:00 – 14:00 14:00 – 14:30

14:30 – 15:00

15:00 – 15:30

15:30 – 16:00 16:00 – 16:30

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Entwickeln von Funktionen für die automatisierte Erstellung komplexer Anwendungen mit X-Controls und VI-Scripting Ulf-Hendrik Hansen, Die Messfabrik GmbH Modularisierung von LabVIEW-Applikationen mit Packet Libraries l Marco Brauner, National Instruments Germany GmbH

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung Datenverwaltung in großen Anwendungen – Performanceüberlegungen l Norbert Brand, Moritz Mayer, National Instruments Germany GmbH

16:30 – 17:00

ab 18:00

Hochschulstammtisch

Test & Measurement 5 Red Flags to Consider Before Configuring Your Next Measurement System Jim Schwartz, National Instruments Corp.

Smart Machine Control for the Manufacturing of Next-Generation Silicon Photonics Microchips Ignazio Piacentini, PI miCos GmbH Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Programmierung eines MEMS-Mikrofons Sebastian Walser, Hochschule München

Verification & Validation Software-in-the-LoopSimulation mit NI VeriStand und Visual Studio unter Verwendung der NI VeriStand Execution API Simon Drüke, Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT, Christian Scheering, Miele & Cie. KG Performing Highly Dynamic Linear and Nonlinear Feed­ back Control of Component Test Benches with Automated Controller Design l Dr. Jörg Paschedag, Marc Scherer, ITK Engineering AG Plug&Play Betriebsstrategie­ integration in Hardware-in-theLoop-Prüfstandssysteme Jörg Küfen, Forschungs­ gesellschaft Kraftfahrwesen Aachen mbH Das Combined Energy Lab – Hardware-in-theLoop-Testumgebung für µKWK-Anlagen Jens Werner, TU Dresden Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Flexibler Prüfstand für die modellbasierte Entwicklung hydraulischer Komponenten l Julius Hudec, Rausch & Pausch GmbH

Closed-Loop Control and Real-Time Simulation with NI VeriStand Nicholas Keel, National Instruments Corp.

Race to the Finish: Build an Automated Test System in under an Hour Bill Driver, National Instruments Corp.

Developing Elektra, the EOL (End-of-Line) Test System for Automotive Inverter l Egidio Vitelli, Loccioni Deutschland GmbH

Skriptbasierte Automatisierungslösung mit CompactRIO und NI DIAdem Holger Müller, a-solution GmbH, Andreas Gessler, Aventics GmbH

Grafische Definition von NIVeriStand-Echtzeitsequenzen Markus Riedesser, CISWORKS GmbH & Co. KG

Hochdynamische Messung des Innenwiderstands von Batteriezellen Martin Brand, Markus Hofmann, TU München

Testautomatisierung Scheinwerfersysteme l Carlos Urquizar, AED Engineering GmbH

Embedded Control & Monitoring

Business Trends

Unlocking Advanced Features in Embedded Control and Monitoring Applications Alexander Glasner, National Instruments Germany GmbH

Continuous Improvement Using Knowledge Creation as the Foundation Andrew Krupp, Vice President, Quality and Continuous Improvement, National Instruments Corp.

Einsatz von LabVIEW und CompactRIO bei der Entwicklung eines seegangs­kompensierenden Hebewerkes Mark Lautermann, Aker Solutions

Business Modelling für Techies – Hilfestellungen für einen erfolgreichen Businessplan Günter Pröpster, Geschäftsführer, Gulf One GmbH

Integration eines CompactRIOgesteuerten Anti-IcingSystems in ein Leitsystem der Windenergie mittels OPC UA Ingmar Kühl, Nordex Energy GmbH, Klaudius Pinkawa, A.M.S. Software GmbH Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Innovationen und Trends im Bereich Automotive Testing Jürgen Wölfle, Manager Testing Technology, Conti Temic microelectronic GmbH

Infinitus – Entwicklung einer 12 Meter breiten Druckmaschine Udo Schwadtke, TU Berlin, Stephan Cepek, Big Image Systems LUVO – Schwingungs­ überwachung an Großlagern in Kraftwerken Dr. Joachim Hilsmann, measX GmbH & Co. KG, Dr. Bruno van den Heuvel, Udo Denzer, RWE Power AG Schwingungsmessungen in der Material­qualifizierung für High-End Hybrid-Wälzlager Andreas Hergesell, MetaDAQ, Robert Bachmann, CEROBEAR GmbH

Prozessregelung und Leitsystem mit LabVIEW und dezentralen NI CompactRIOs Jochen Weber, ProNES Automation GmbH, Dr. Gilbert Anderer, AVA Biochem BSL AG Automatisierung einer hydraulischen Richtpresse mit NI CompactRIO Norbert Schmotz, Universität Rostock/FVTR-Rostock GmbH

NI Startup Program Empowers the First Highspeed Grain-by-Grain Sorting Device David Liechti, Head of Engineering, QualySense AG Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Meet the Experts Embedded System Design – Best Practices and Lessons Learned National Instruments and Partners

Workshops

Seminare

Textbasierte Programmierung mit LabWindows/CVI Alexander Glasner, National Instruments Germany GmbH

Softwarevalidierung für Embedded-Systeme – Implementierung von EchtzeitTestapplikationen mit NI VeriStand l Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Software-Defined Radio mit NI USRP l Alexander Glasner, National Instruments Germany GmbH

Neuerungen in NI LabVIEW l Lorenz Casper, National Instruments Germany GmbH

Interaktives Daten­ management und Bericht­ erstellung mit NI DIAdem l Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH

Testmanagement mit NI TestStand Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH

Best Practices bei der Datenverwaltung Anreas Haub, Walter Rick, Stefan Romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Product Development Process – Driving Efficiency Improvements at NI Andrew Krupp, Vice President, Quality and Continuous Improvement, National Instruments Corp. Build vs. Buy – Chancen der plattformbasierten Entwicklung und Herausfor­ derungen bei der Integration Dr. Wolfram Koerver, Geschäftsführer, S.E.A. Datentechnik GmbH Schlüsselelemente einer erfolgreichen Standardisierung von Prüfmitteln Thomas Rönpage, Area Sales Manager, National Instruments Germany GmbH Mitarbeiter motiviert durch Zeiten des Wandels führen – Herausforderung für jedes Unternehmen André Saller, Area Sales Manager, National Instruments Germany GmbH

CLAD-Zertifizierung

l Für Fortgeschrittene l Automotive-Bezug

DONNERSTAG

AGENDA | VIP 2014 – Virtuelle Instrumente in der Praxis | Dozenten- und Ausbildertag

24. Oktober 2014

9:30 – 10:30

10:30 – 11:00

Keynote:

Dave Wilson, Academic Marketing Director, National Instruments Nikolai Rösch, Academic Program Manager Central Europe, National Instruments

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung HF-Technologien

11:00 – 11:30

Radio Data System Transmission Using Software-Defined Radios Matthias Schulz, TU Darmstadt

11:30 – 12:00

Anschauliche Signaltheorie: Der adaptive Equalizer – Lineare Verzerrungen erkennen und nutzen Prof. Ulrich Mann, Hochschule Schweinfurt

12:00 – 12:30

12:30 – 13:00

13:00 – 14:00 14:00 – 14:30

Mess- und Regelungstechnik Optimierung konventioneller thermischer Trocknungs­ prozesse von Nahrungsmitteln durch modellbasierte prädiktive Regler mithilfe von NI LabVIEW und NI myRIO Alexander-Nicolai Köhler, Markus Fischer, Hochschule Fulda Advanced-Control-Konzepte zur Regelung eines rotatorischen inversen Pendels – Implementierung und Test auf dem NI-cRIO-System Prof. Steven Lambeck, Hochschule Fulda Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Ausbildung und Lehre

NI myRIO – Einführung in Embedded-Systeme in der Lehre Johannes Mutterer, National Instruments Germany GmbH

LEGO Mindstorms EV3 für die Ausbildung und Lehre Karen Schnier, Martin Engels, LEGO Education Germany

Lehrprojekt LabVIEW Software-Entwicklung am Beispiel des Kartenspiels „MAU-MAU“ Sindy Schmidt, Jan Jens Koltermann, TU Cottbus-Senftenberg Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

Mittagspause/ Besuch der Ausstellung

NI myRIO – Steuerung und Regelung mit dem QUANSER Qube l Johannes Mutterer, National Instruments Germany GmbH

NI Academic Product Line in der Anwendung Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH

Software-Defined Radio mit NI USRP Alexander Glasner, National Instruments Germany GmbH

Schaltungsdesign mit NI ELVIS, NI Multisim und NI LabVIEW Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH

Implementierung und Vergleich von Bildverarbeitungs­ techniken und -verfahren für Robot Vision Prof. Peter Nauth, Fachhochschule Frankfurt a.M.

15:00 – 15:30

Motion Control System eines 3-Achs-Roboters für Pick&Place-Aufgaben Prof. Ulrich Hoffmann, Stefan Rößner, Norbert Voß, Fachhochschule Aachen

15:30 – 16:00

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung

16:00 – 16:30

Mobile Ganganalyse für Prothesenträger mittels NI myRIO Jochen Schuy, TU Darmstadt

Bau eines kugelförmigen Displays Lukas Bockstaller, Gewerbliche Schulen Waldshut Tiengen

16:30 – 17:00

Laborverdampferstrecke zur mess- und regelungs­ technischen Konzeptvalidierung und Integration in die Lehre Andreas Kohlhepp, TU München

LabVIEW-Programmierung einer verfahrenstechnischen Durchfluss- und Regelanlage für die Ausbildung Dr. Hans Schneider, IPI Ing.-Büro für Prozessinformatik, Elfi Büttner, Oberstufenzentrum Lausitz

Ende des Dozenten- und Ausbildertags

Seminare

Lernen durch Erfahren – Vermittlung messtechnischer Grundlagen an der TU Darmstadt mithilfe der NI-myRIO-Plattform Dr. Jann Neumann, TU Darmstadt Futur[e]Ing. – Pilotversuch zu einem neuen Studiengangs­ konzept mit LabVIEW als fachübergreifende Modellierungs- und Entwicklungsplattform Prof. Norbert Dahmen, Jost Göttert, Hochschule Niederrhein Praktikum Echtzeitprozess­ steuerung mit NI LabVIEW und NI myDAQ Dr. Oswald Kowalski, TU Ilmenau

14:30 – 15:00

17:00

Workshops

Falten, filtern, korrelieren: Signalverarbeitung mit LabVIEW in Hörsaal­ experimenten erlebbar machen Prof. Georg Eggers, Hochschule München Konzeption und Entwicklung eines Laborprüfplatzes zur Untersuchung von piezoelektrischen Mikropumpen Ulrich Dahmen, Hochschule Niederrhein

l Für Fortgeschrittene

FREITAG